●  D8-Discover型高分辨X射线衍射仪

最大功率：2.2kw (正常使用状况：40kV,  40mA)

功能简介：薄膜分析；高分辨X射线衍射；掠入射X射线衍射（普通型和in-plan模式）；反射率；织构分析

主要附件：Gobel反射镜；Ge（022）四晶单色器（角分辨率< ="12'）

其余附件：多功能样品台（in-plan模式）；反射率附件（带刃型光阑）；后平行狭缝

主要性能：theta, 2theta 轴最小步距0.0001,样品台具有（X,Y,Z,Phi,Chi）五个自由度：Chi：-11°到98°  Δ0.01°;Phi：-180°to  +180°   Δ0.01°;X轴：80mm  Δ0.01mm;Y轴：80mm;  Δ0.01mm; Z轴：2mm   Δ0.01mm

主要功能：高分辨X射线衍射分析

(1)可选择双晶摇摆曲线测量、三轴晶衍射测量（即倒易空间等强度分布图测量）等测量方式;(2)分析范围:外延薄膜的厚度，晶格参数、失配、应力，化学配比，缺陷、晶粒尺寸、侧向结构

掠入射X射线衍射测量

(1)测量特点：仪器的X-射线束是近标准的平行光束，可采用面内和面外两种方式

(2)适合做薄膜的相结构，晶格参数、失配、应力，侧向结构和膜层的取向

反射率测量

(1)可测1000纳米以下薄膜的厚度、密度以及5纳米以下界面粗糙度等信息，

(2)测量范围：非晶，单晶，多晶

织构测量:主要用于测量基体和膜层取向

联系人：周老师   0411-84707930转13